检测项目
1.电阻率:体电阻率,表面电阻率,温度依赖性。
2.介电常数:低频介电常数,高频介电常数,频率稳定性。
3.介质损耗:损耗因数,损耗角正切,频率响应。
4.载流子行为:载流子浓度,迁移率,陷阱密度。
5.杂质含量:金属杂质,非金属杂质,总杂质。
6.离子迁移:离子导电性,离子扩散速率,电场迁移。
7.绝缘性能:击穿强度,绝缘电阻,耐压稳定性。
8.极化特性:极化强度,极化迟滞,极化恢复。
9.电导稳定性:时间稳定性,环境敏感性,热稳定性。
10.含水影响:含水量,吸附水分,电性能变化。
11.热电耦合:温度系数,热致电导变化,热应力影响。
12.表面状态:表面粗糙度影响,表面污染影响,表面清洁度。
检测范围
光学窗片、光学透镜、反射镜坯料、棱镜坯料、滤光片基材、分光片基材、光学玻璃板、光学玻璃棒、光学玻璃片、光学玻璃坯、激光器用玻璃、成像系统用玻璃、传感器用玻璃、光通信用玻璃、精密仪器用玻璃、薄片光学玻璃、厚片光学玻璃、特种光学玻璃
检测设备
1.高阻计:用于测量体电阻率与表面电阻率,测试绝缘性能。
2.介电谱分析仪:用于获取介电常数与介质损耗的频率特性。
3.精密电桥:用于测量介电参数与损耗因数,提升测量精度。
4.击穿强度测试仪:用于测试耐压能力与击穿电场强度。
5.电导率测试仪:用于表征电导变化与稳定性指标。
6.杂质分析仪:用于测定金属与非金属杂质含量。
7.离子迁移测试系统:用于测试离子导电性与迁移行为。
8.温湿度控制试验箱:用于模拟环境条件并观察电性能变化。
9.热分析仪:用于获取温度系数与热电耦合特性。
10.表面形貌检测仪:用于测试表面状态对电学性能的影响。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。